扫描电子显微镜（SEM）
SEM 在扫描样品表面时对由精细聚焦的电子束激发的各种物理信号进行调制和成像。
SEM利用逐点成像将样品表面的不同属性转换为连续且成比例的图像（例如二次电子图像）。
背散射电子图像
扫描电子显微镜的优点是：
1）高倍率。
2）景深深、视野宽、三维图像。
3) 样品制备简单。
照片示例：
透射电子显微镜(TEM)
TEM 用聚焦电子束照射非常薄的样品表面，并通过样品的透射或衍射电子束产生的图像来分析样品的微观结构。
TEM 通常用于研究纳米材料的结晶、观察纳米粒子的形貌和分散性以及测量和表征纳米粒子的尺寸。
照片示例：
扫描隧道显微镜(STM)
STM利用量子理论的隧道效应来检测材料的表面结构。
当带电的微小尖端缓慢穿过材料时，电流从尖端流出并穿过材料，直到到达底层。
当探针经过单个原子时，通过改变流过探针的电流量来获得图像。
照片示例：
原子力显微镜（AFM）
AFM 通过检测样品表面和小型力敏感元件之间非常弱的原子相互作用力来研究材料的表面结构和性质。
当一对对弱力极其敏感的微悬臂梁的一端固定在样品上，而另一端的尖端靠近样品时，两者之间的相互作用会导致微悬臂梁变形或改变其状态。运动状态。
传感器用于检测这些变化并获取表面形貌结构信息和表面粗糙度信息。
AFM分为接触式、非接触式、攻丝式
原子力显微镜的优点：
1) AFM 提供真实的3D 表面图。
2) 不损坏样品。
3）更广泛的适用性。
照片示例：
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